Back-Scattered Electron Imaging of Microscopic Segregation in (Si,Ge) Single Crystals
상세정보
| 자료유형 | 해외논문 |
|---|---|
| 저널명 | Back-Scattered Electron Imaging of Microscopic Segregation in (Si,Ge) Single Crystals |
| 등록번호 | B0503404011 |
| 저자 | G. Lacayo, J. Wollweber, D. Schulz , W. Schroder , W. Neumann |
| 연도 | 1999 |
| 권/호 | 034/04 |
| 페이지 | 509 ~ 518 |
| 키워드 | fourier analysis,scanning electron microscopy,doping and impurity implantation,Single Crystals |
| 원문링크 | 원문링크 |
유형별 논문
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- 관리자
- 한국지질자원연구원
- 등록일
- 2023-11-07
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G. Lacayo, J. Wollweber, D. Schulz , W. Schroder , W. Neumann. (1999). Back-Scattered Electron Imaging of Microscopic Segregation in (Si,Ge) Single Crystals.
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